Envoyer le message
Jusqu'à 5 fichiers, chaque taille de 10 Mo est prise en charge. D'accord
ZEIT Group 86-28-62156220-810 hua.du@zeit-group.com
Obtenez un devis
描述
English French German Italian Russian Spanish Portuguese Dutch Greek Japanese Korean Arabic Hindi Indonesian Vietnamese Persian Polish
描述

Équipement de test optique

Obtenez un devis
qualité Équipement de test optique Un service
Aperçu - Les catégories - Équipement de test optique
Les catégories

Équipement de revêtement optique

Équipement de test optique

Substrat de photomasque

Système de mesure de la biréfringence

Éléments optiques

Équipement de dépôt de couche atomique

Machine de revêtement par pulvérisation magnétron

Équipement de détection de défauts de surface

Machine de finition magnétorhéologique

Équipement d'inspection de planéité

Équipement d'inspection de surface

Équipement non standard

Solutions de ligne de production automatisées

Système d'interféromètre de laser

Digital Autocollimator

Lentille d'interféromètre

Laisser un message

Le total 1 Des pages
Les Derniers Produits

Nos produits sont vendus dans le monde entier. Vous pouvez être assuré de l'ensemble du processus de nos produits.

  • LA CHINE Temps réel d'équipement d'essai optique de système de mesure de biréfringence d'amplitude d'effort

    Temps réel d'équipement d'essai optique de système de mesure de biréfringence d'amplitude d'effort

  • LA CHINE Les rayures dépoussièrent le détecteur de surface optique 1.8μM de semi-conducteur d'équipement d'essai

    Les rayures dépoussièrent le détecteur de surface optique 1.8μM de semi-conducteur d'équipement d'essai

  • LA CHINE Détection de défaut de surface de planéité de plaquette de forme de réflecteur de lampe d'équipement d'essai optique de ZEIT

    Détection de défaut de surface de planéité de plaquette de forme de réflecteur de lampe d'équipement d'essai optique de ZEIT

  • LA CHINE Longueur d'onde de fonctionnement appareil de contrôle optique de planéité d'équipement d'essai de nanomètre 633

    Longueur d'onde de fonctionnement appareil de contrôle optique de planéité d'équipement d'essai de nanomètre 633

  • LA CHINE Équipement de détection de mesure de biréfringence de distribution de contrainte d'amplitude de contrainte en temps réel

    Équipement de détection de mesure de biréfringence de distribution de contrainte d'amplitude de contrainte en temps réel

  • LA CHINE Équipement de système de mesure de biréfringence VIS 520nm 590nm 650nm

    Équipement de système de mesure de biréfringence VIS 520nm 590nm 650nm

  • LA CHINE Rayures dépoussière la résolution 1.8μM d'équipement de détection de surface de semi-conducteur

    Rayures dépoussière la résolution 1.8μM d'équipement de détection de surface de semi-conducteur

  • LA CHINE Équipement d'essai optique 40x de systèmes de détection de surface de semi-conducteur

    Équipement d'essai optique 40x de systèmes de détection de surface de semi-conducteur