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Scratches Dusts Optical Testing Equipment Semiconductor Surface Detector 1.8μM

Les rayures dépoussièrent le détecteur de surface optique 1.8μM de semi-conducteur d'équipement d'essai

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    Les éraflures époussette l'équipement d'essai optique 1.8μM

    ,

    équipement d'essai de 1.8μM Scratches Dusts Optical

    ,

    équipement de détecteur de semi-conducteur de 1.8μM Scratches Dusts

  • Taille
    1210 mm*1000mm* 1445mm, personnalisable
  • Personnalisable
    Disponible
  • Période de garantie
    1 an ou cas par cas
  • Termes de expédition
    Par la mer/air/transport multimodal, etc.
  • Lieu d'origine
    Chengdu, République populaire de Chine
  • Nom de marque
    ZEIT
  • Certification
    Case by case
  • Numéro de modèle
    SDD0.5-0.5
  • Quantité de commande min
    1 jeu
  • Prix
    Case by case
  • Détails d'emballage
    caisse en bois
  • Délai de livraison
    Cas par cas
  • Conditions de paiement
    T/T
  • Capacité d'approvisionnement
    Cas par cas

Les rayures dépoussièrent le détecteur de surface optique 1.8μM de semi-conducteur d'équipement d'essai

Détecteur de défaut de surface du matériau de semi-conducteur

 

 

Applications

Pour la gestion à régulation de processus et de rendement du masque vide dans les domaines de l'affichage de semi-conducteur et

fabrication de puce de circuit intégré, nous employons des technologies de essai optiques de sortie élevée pour rendre rapide et

détection automatique précise pour les défauts extérieurs du masque vide. Selon des besoins de l'utilisateur professionnels,

nous avons développé la série de sortie élevée MASQUONS des machines d'inspection avec la qualité fiable et le coût élevé

rapport de représentation, pour aider les fabricants en verre de substrat, de masque et de panneau à identifier et surveiller le masque

les défauts, réduisent le risque de rendement et améliorer leur capacité indépendante de R&D pour des technologies de base.

 

Principe de fonctionnement

Quant au niveau et au type du défaut extérieur, de la lentille 4x telecentric, de la lumière spécifique d'anneau d'angle et de lumière coaxiale

la source sont choisies comme approche visuelle. Quand le dispositif fonctionne, l'échantillon se déplace le long du X

la direction et le module de vision effectue la détection de défaut le long de la direction de Y.

 

Caractéristiques

 Modèle  SDD0.5-0.5

 Détection de représentation

 Type décelable de défaut  Les éraflures, époussette
 Taille décelable de défaut  1μm

 Exactitude de détection

(mesuré)

 détection 100% des défauts/collection de

défauts (éraflures, poussière)

 Efficacité de détection

 minutes ≤10

(Valeur mesurée : masque de 350mm x de 300mm)

 Performances système optiques

 Résolution  1.8μm
 Rapport optique  40x
 Champ visuel  0.5mm x 0.5mm
 Illumination légère bleue  460nm, 2.5w

 

 Représentation de plate-forme de mouvement

 

 

 X, mouvement biaxial de Y

Planéité de marbre de partie supérieure du comptoir : 2.5μm

Précision de fin de bande de Z-direction d'axe des y : ≤ 10.5μm

Précision de fin de bande de Z-direction d'axe des y : ≤8.5μm

 

Note : Production adaptée aux besoins du client disponible.

                                                                                                                

Images de détection

Les rayures dépoussièrent le détecteur de surface optique 1.8μM de semi-conducteur d'équipement d'essai 0

 

Nos avantages

Nous sommes fabricant.

Processus mûr.

Réponse dans un délai de 24 heures de travail.

 

Notre certification d'OIN

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Parties de nos brevets

Les rayures dépoussièrent le détecteur de surface optique 1.8μM de semi-conducteur d'équipement d'essai 2Les rayures dépoussièrent le détecteur de surface optique 1.8μM de semi-conducteur d'équipement d'essai 3

 

 

Parties de nos récompenses et qualifications de R&D

Les rayures dépoussièrent le détecteur de surface optique 1.8μM de semi-conducteur d'équipement d'essai 4Les rayures dépoussièrent le détecteur de surface optique 1.8μM de semi-conducteur d'équipement d'essai 5